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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 61967-2:2003-12

DIN IEC 61967-2:2003-12

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM-cell method (IEC 47A/673/CD:2003)

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der abgestrahlten Aussendungen; TEM-Zellenverfahren (IEC 47A/673/CD:2003)

Fecha Anulación:
2016-03 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47A/673/CD (2003-07)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 61967-2:2006-03

Resumen:
This measurement procedure defines a method for measuring the eelctromagnetic radiation from an integrated circuit (IC). The IC being evaluated is mounted on an IC test printed circuit board (PCB) that is clamped to a mating port (referred to as a wall port) cut in the top or bottom of a transverse electromagnetic (TEM) or wideband gigahertz TEM (GTEM) cell. The test board is not inside the cell, as in the conventional usage, but becomes a part of the cell wall. This method is applicable to any TEM or GTEM cell modified to incorporate the wall port.
Dieses Messverfahren legt eine Methode zur Messung der elektromagnetischen Strahlung einer integrierten Schaltung (IC) fest. Der zu prüfende IC wird auf einer IC-Messadapter-Leiterkarte (test- PCB) montiert, die in einer passenden Öffnung (bezeichnet als Wandöffnung) in der Ober- oder Unterseite einer transversalen elektromagnetischen (TEM) Zelle oder einer Breitband-Gigahertz-TEM- (GTEM) Zelle befestigt wird. Die Messadapter-Leiterkarte befindet sich nicht wie beim gewöhnlichen Gebrauch im Inneren der Zelle, sondern wird Bestandteil der Zellenwand. Dieses Verfahren kann bei jeder TEM- oder GTEM-Zelle angewendet werden, die eine Wandöffnung besitzt.
Keywords:
Electrical engineering, Electromagnetic radiation, Electronic equipment and components, Frequency ranges, Integrated circuits, Measurement, Measurement conditions, Measuring equipment, Measuring techniques, Printed-circuit boards, Radiation, Test circuits, Testing, Testing conditions, Testing devices
90,09
Idioma Formato

Formato digital

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