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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 61967-3:2003-12

DIN IEC 61967-3:2003-12

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions; 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method (IEC 47A/674/CD:2003)

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 3: Messung der abgestrahlten Aussendungen; Verfahren der Oberflächenabtastung (IEC 47A/674/CD:2003)

Fecha Anulación:
2017-02 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47A/674/CD (2003-07)

Resumen:
This test procedure defines a method for evaluating the near electric, magnetic or electromagnetic field components at or near the surface of an integrated circuit (IC). This diagnostic procedure is intended for IC architectural analysis such as floor planning and power distribution optimisation. It is applicable to measurements from an IC mounted on any circuit board that is accessible to the scanning probe.
Dieses Messverfahren legt eine Methode zur Bewertung der elektrischen, magnetischen oder elektromagnetischen Nahfeldkomponenten auf oder nahe der Oberfläche einer integrierten Schaltung (IC) fest. Dieses Diagnoseverfahren dient der Architekturanalyse eines IC wie der Blockanordnung und der Optimierung der Stromverteilung. Es kann für Messungen an einem IC auf jeder Leiterkarte angewendet werden, wenn dieser für die Abtastsonde zugänglich ist.
Keywords:
Electrical engineering, Electromagnetic radiation, Electronic equipment and components, Frequency ranges, Integrated circuits, Measurement, Measurement conditions, Measuring equipment, Measuring techniques, Printed-circuit boards, Radiation, Surface properties, Surfaces, Test circuits, Testing, Testing conditions, Testing devices
88,32
Idioma Formato

Formato digital

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