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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-18:2003-09

DIN EN 60749-18:2003-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002); German version EN 60749-18:2003 / Note: A transition period, as set out in DIN EN IEC 60749-18 (2020-02), exists until 2022-05-15.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 18: Rayonnements ionisants (dose totale) (CEI 60749-18:2002); Version allemande EN 60749-18:2003 / Attention: Il existe un délai de transition comme fixé en DIN EN IEC 60749-18 (2020-02) jusqu'à 2022-05-15.

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis) (IEC 60749-18:2002); Deutsche Fassung EN 60749-18:2003 / Achtung: Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN IEC 60749-18 (2020-02), bis 2022-05-15 beachten.

Fecha Anulación:
2020-02 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

EN 60749-18 (2003-02)

IEC 60749-18 (2002-12)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
The test procedure described in this standard defines the reqirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionisind radiation (total dose) effects from a cobalt-60 gamma ray source. In addition this procedure provides an accelerated annealing test for estimating low dose rate ionising radiation effects on devices
Das in dieser Norm beschriebene Prüfverfahren legt die Anforderungen für die Prüfung von integrierten Halbleiterschaltkreisen und Einzelhalbleiterbauelementen in Gehäusen auf Auswirkungen von ionisierender Strahlung (Gesamtdosis) aus einer Kobalt-60-Gammastrahlenquelle fest. Außerdem enthält dieses Prüfverfahren eine beschleunigte Ausheilungsprüfung für die Bestimmung der Auswirkungen von ionisierender Strahlung mit niedriger Dosis auf Bauelemente.
Keywords:
Climate, Climatic tests, Components, Definitions, Destructive testing, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Integrated circuits, Ionizing radiation, Mechanical testing, Military equipment, Multilingual, Radiation effects, Semiconductor devices, Semiconductors, Space transport, Testing
65,98
Idioma Formato

Formato digital

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