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Normas DIN – AENOR
DIN 50436:1976-10

DIN 50436:1976-10

Testing of semi-conducting inorganic materials - Measurement of the metalurgic thickness of epitaxial layers of silicon by the stacking fault method

Essai des matériaux semi-conducteurs minéraux - Mesure de l'épaisseur métallurgique des couches épitaxiales de silicium par la méthode défaut-empilement

Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe - Messung der metallurgischen Dicke von Silicium-Epitaxieschichten nach der Stapelfehlermethode

Fecha Anulación:
2012-02 /Withdrawn
Keywords:
Definitions, Dimensions, Measurement, Semiconductors, Substrates (insulating), Testing
20,75
Idioma Formato

Formato digital

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