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Normas DIN – AENOR
DIN 50433-1:1976-12

DIN 50433-1:1976-12

Testing of semi-conducting inorganic materials; determining the orientation of single crystals by means of X-ray diffraction

Essai des matériaux semi-conducteurs minéraux; détermination de l'orientation des monocristaux par diffraction de rayons X

Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung der Orientierung von Einkristallen mit einem Röntgengoniometer

Fecha Anulación:
2017-07 /Withdrawn
Keywords:
Definitions, Detectors (circuits), Germanium, Safety, Samples, Seals, Semiconductors, Silicon, Testing, Washers
20,37
Idioma Formato

Formato digital

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