Saltar navegación principal
Normas DIN – AENOR
DIN EN 60679-1:2002-10

DIN EN 60679-1:2002-10

Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification (IEC 60679-1:1997 + A1:2002); German version EN 60679-1:1998 + A1:2002 / Note: DIN EN 60679-1 (1998-09) remains valid alongside this standard until 2005-03-01.*A transition period, as set out in DIN EN 60679-1 (2004-03), exists until 2006-09-01.

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique (CEI 60679-1:1997 + A1:2002); Version allemande EN 60679-1:1998 + A1:2002 / Attention: DIN EN 60679-1 (1998-09) reste valable avec la présente norme jusqu'à 2005-03-01.*Il existe un délai de transition comme fixé en DIN EN 60679-1 (2004-03) jusqu'à 2006-09-01.

Quarzoszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60679-1:1997 + A1:2002); Deutsche Fassung EN 60679-1:1998 + A1:2002 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60679-1 (1998-09) noch bis 2005-03-01.*Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 60679-1 (2004-03), bis 2006-09-01 beachten.

Fecha Anulación:
2014-03 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

EN 60679-1 (1998-02)

EN 60679-1/A1 (2002-03)

IEC 60679-1 AMD 1 (2002-01)

IEC 60679-1 (1997-12)

Relación con otras normas DIN:

Reemplaza a: DIN EN 60679-1:1998-09

Reemplaza a: DIN IEC 49/363/CD:1997-02

Reemplazada por: DIN EN 60679-1:2004-03

Resumen:
This part of IEC 60679 specifies the methods of test and general requirements for quartz crystal controlled oscillators of assessed quality using either capability approval or qualification approcal procedures.
Dieser Teil der IEC 60679 legt die Prüfverfahren und allgemeinen Anforderungen an Quarzoszillatoren mit bewerteter Qualität durch die Verfahren der Befähigungsanerkennung oder der Bauartanerkennung fest.
Keywords:
Approval, Capability approval, Crystals (electronic), Definitions, Electrical engineering, Electronic equipment and components, Generic specification, Measurement, Measurement conditions, Measuring techniques, Oscillators, Piezoelectric devices, Quality, Quality assessment procedures, Quality requirements, Quartz crystal controlled oscillators, Quartz crystals, Specification (approval), Testing, Testing conditions, Type approval procedure, Types, Weighting system
140,37
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Añadir a la cesta