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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-27:2002-09

DIN EN 60749-27:2002-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Machine model (MM) (IEC 47/1624/CDV:2002); German version prEN 60749-27:2002

Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques - Partie 27: Essai de la sensibilité aux électrostatiques (ESD); Modéle de machine (MM) (CEI 47/1624/CDV:2002); Version allemande prEN 60749-27:2002

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Machine Model (MM) (IEC 47/1624/CDV:2002); Deutsche Fassung prEN 60749-27:2002

Fecha Anulación:
2015-05 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47/1624/CDV (2002-04)

prEN 60749-27 (2002-04)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 60749-27:2005-05

Resumen:
This method establishes a standard procedure for testing and classifying microcircuits according to their suceptibility to damage or degradation by exposure to a defined Machine Model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the Human Body Model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable MM ESD test results so that accurate classifications can be performed.
Festlegung eines Standardverfahrens für die Prüfung und Klasseneinteilung von Schaltkreisen hinsichtlich ihrer Empfindlichkeit gegen Beschädigung oder Beeinträchtigung durch Beanspruchung mit einer bestimmten elektrostatischen Entladung (ESD - Electrostatic Discharge) nach dem Machine Model (MM). Es darf als Alternative zu dem Human Body Model ESD-Verfahren angewendet werden. Zielstellung ist die Sicherung von zuverlässigen und wiederholbaren MM-ESD-Prüfergebnissen für die exakte Klasseneinteilung.
Keywords:
Atmospheric pressure, Changes of temperature, Climate, Climatic tests, Components, Density, Dimensions, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Electrostatic, Electrostatics, Environment, Environmental testing, Environmental tests, Flammability, Heat, Integrated circuits, Mechanical testing, Moisture, Resistance, Semiconductor devices, Semiconductors, Sensitivity, Temperature, Testing, Visual inspection (testing)
52,9
Idioma Formato

Formato digital

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