Resumen:
This method establishes a standard procedure for testing and classifying microcircuits according to their suceptibility to damage or degradation by exposure to a defined Machine Model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the Human Body Model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable MM ESD test results so that accurate classifications can be performed.
Festlegung eines Standardverfahrens für die Prüfung und Klasseneinteilung von Schaltkreisen hinsichtlich ihrer Empfindlichkeit gegen Beschädigung oder Beeinträchtigung durch Beanspruchung mit einer bestimmten elektrostatischen Entladung (ESD - Electrostatic Discharge) nach dem Machine Model (MM). Es darf als Alternative zu dem Human Body Model ESD-Verfahren angewendet werden. Zielstellung ist die Sicherung von zuverlässigen und wiederholbaren MM-ESD-Prüfergebnissen für die exakte Klasseneinteilung.
Keywords:
Atmospheric pressure, Changes of temperature, Climate, Climatic tests, Components, Density, Dimensions, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Electrostatic, Electrostatics, Environment, Environmental testing, Environmental tests, Flammability, Heat, Integrated circuits, Mechanical testing, Moisture, Resistance, Semiconductor devices, Semiconductors, Sensitivity, Temperature, Testing, Visual inspection (testing)