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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-18:2002-05

DIN EN 60749-18:2002-05

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionising Radiation (total dose); Test procedure (IEC 47/1589/CDV:2001); German version prEN 60749-18:2001

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 18: Radiations ionisantes ("total dose"); Procédure de test (CEI 47/1589/CDV:2001); Version allemande prEN 60749-18:2001

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis); Prüfverfahren (IEC 47/1589/CDV:2001); Deutsche Fassung prEN 60749-18:2001

Fecha Anulación:
2013-09 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47/1589/CDV (2001-11)

prEN 60749-18 (2001-11)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 60749-18:2003-09

Resumen:
The test described in this standard defines the requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionising radiation (total dose) effects from a cobalt-60-gamma ray source. In addition this procedure provides an accelerated annealing test for estimating low dose rate ionising radiation effects on devices.
Das in dieser Norm beschriebene Prüfverfahren legt die Anforderungen für die Prüfung von integrierten Halbleiterschaltkreisen und Einzelhalbleiterbauelementen in Gehäusen auf Auswirkungen von ionisierender Strahlung (Gesamtdosis) aus einer Kobalt-60-Gammastrahlenquelle fest. Außerdem enthält dieses Prüfverfahren eine beschleunigte Ausheilungsprüfung für die Bestimmung der Auswirkungen von ionisierender Strahlung mit niedriger Dosis auf Bauelemente.
Keywords:
Climate, Climatic tests, Components, Destructive testing, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Integrated circuits, Ionizing radiation, Mechanical testing, Radiation effects, Semiconductor devices, Semiconductors, Testing
58,5
Idioma Formato

Formato digital

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