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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60512-25-3:2002-08

DIN EN 60512-25-3:2002-08

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation (IEC 60512-25-3:2001); German version EN 60512-25-3:2001

Connecteurs pour équipements électroniques - Essais et mesures - Partie 25-3: Essai 25c: Dégradation du temps de montée (CEI 60512-25-3:2001); Version allemande EN 60512-25-3:2001

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderung der Anstiegszeit (IEC 60512-25-3:2001); Deutsche Fassung EN 60512-25-3:2001

Fecha:
2012-08 /Active
Equivalencias internacionales:

EN 60512-25-3 (2001-10)

IEC 60512-25-3 (2001-07)

TS EN 60512-25-3 (2003-04-21)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
The document applies to electrical connectors, sockets, cable assemblies or interconnection systems. It describes a method for measuring the effect a specimen has on the rise time of a signal passing through it.
Das Dokument gilt für elektrische Steckverbinder, Buchsen, konfektionierte Kabel und Verbindungssysteme. Es beschreibt Verfahren zur Bestimmung der Änderung der Anstiegszeit, die ein Prüfling an einem durchgehenden Signal verursacht.
Keywords:
Components, Contact resistance, Definitions, Electric plugs, Electrical components, Electrical engineering, Electromechanical, Electromechanical devices, Electromechanics, Electronic engineering, Electronic equipment, Electronic equipment and components, Electronic instruments, Impedance, Insulation test, Insulations, Investigations, Measuring techniques, Momentum, Performance tests, Resistivity, Resistors, Rise time, Signal lines, Switches, Testing, Voltage rating, Voltage stress
53,93
Idioma Formato

Formato digital

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