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Normas DIN – AENOR
DIN 50440-1:1994-04

DIN 50440-1:1994-04

Testing of materials for semiconductor technology; measurement of carrier lifetime in silicon single crystals; recombination carrier lifetime at low injection by photo conductive decay method

Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs; mesure de la durée de vie des porteurs de charge en monocristaux de silicium; durée de vie par recombinaison des porteurs de charge à petit injection selon la méthode de la photo-conductivité

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Messung der Trägerlebensdauer in Silicium-Einkristallen; Rekombinations-Trägerlebensdauer bei geringer Injektion nach dem Photoleitfähigkeitsverfahren

Fecha Anulación:
1995-12 /Withdrawn
Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN 50440:1995-12

Resumen:
The document covers the determination of the recombination carrier lifetime at low injection by the photo conductive decay method.
Das Dokument dient der Bestimmung der Rekombinations-Trägerlebensdauer bei geringer Injektion nach dem Photoleitfähigkeitsverfahren.
Keywords:
Components, Definitions, Electrical engineering, Electronic engineering, Life (durability), Materials testing, Measurement, Measuring techniques, Photoconductivity, Recombination, Semiconductor engineering, Semiconductors, Silicon, Single crystal, Testing
40,84
Idioma Formato

Formato digital

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