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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 47(Sec)1319:1993-10

DIN IEC 47(Sec)1319:1993-10

Semiconductor devices; measuring the turn-off behaviour of GTO-thyristors (IEC 47(Secretariat)1319:1993)

Halbleiterbauelemente; Meßverfahren für das Abschaltverhalten von GTO-Thyristoren (IEC 47(Sec)1319:1993)

Fecha Anulación:
1996-06 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47(Secretariat)1319 (1993)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
The document contains an additional measuring method for GTO-thyristors for the turn-off behaviour to be introduced in IEC 747-6.
Das Dokument enthält ein zusätzliches Meßverfahren für das Abschaltverhalten von GTO-Thyristoren zur Aufnahme in IEC 747-6.
Keywords:
Components, Cutoff, Definitions, Electrical engineering, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Gates, Integrated circuits, Measurement, Measuring techniques, Semiconductor devices, Semiconductors, Thyristors
34,95
Idioma Formato

Formato digital

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