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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 47(Sec)1233:1992-04

DIN IEC 47(Sec)1233:1992-04

Semiconductor devices; revision of IEC 747-6: thyristors, chapter IV, clause 2: thermal measurements; identical with IEC 47(Secretariat)1233

Halbleiterbauelemente; Überarbeitung von IEC 747-6: Thyristoren, Kapitel IV, Abschnitt 2: Thermische Messungen; Identisch mit IEC 47(Sec)1233

Fecha Anulación:
1996-06 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47(Secretariat)1233 (1991)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
The draft standard concerns the revision of IEC 747-6 as to thermal measurements, particulary measurement of thermal resistance of thyristors.
Der Norm-Entwurf betrifft die Überarbeitung der IEC 747-6 im Abschnitt über Temperaturmessungen, insbesondere des Wärmewiderstandes.
Keywords:
Components, Electrical engineering, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Measurement, Semiconductor devices, Temperature measurement, Testing, Thermal measurement, Thermal resistance, Thyristors
34,95
Idioma Formato

Formato digital

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