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Normas DIN – AENOR
DIN 45903:1985-08;CECC 00013:1985-08

DIN 45903:1985-08;CECC 00013:1985-08

Harmonized system of quality assessment for electronic components; basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice

Système harmonisé d'assurance de la qualité des composants électroniques; spécification de base: contrôlé au microscope électronique à balayage des pastilles à semiconducteurs

Harmonisiertes Gütebestätigungssystem für Bauelemente der Elektronik; Grundspezifikation: Prüfung von Halbleiterchips mit Raster-Elektronenmikroskop (CECC 00013)

Fecha Anulación:
1996-02 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

CECC 00013 (1984)

IS 699 (1986)

NEN-CECC 00013 (1985)

SFS 5262 (1986)

Resumen:
The standard describes as a basic-specification within the CECC-system of quality assessment a procedure for testing of semiconductor dice by means of a scanning electron microscope. This test procedure has been prepared by ESA and adopted by CECC without any changes.
Die Norm enthält als Grundspezifikation im CECC-Gütebestätigungssystem ein Verfahren zur Prüfung von Halbleiterchips mit dem Raster-Elektronenmikroskop. Dieses Verfahren ist von der ESA ausgearbeitet und von CECC unverändert übernommen worden.
Keywords:
Basic specification, Chips, Definitions, Electrical engineering, Electron microscopes, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Harmonization, Inspection, Inspection specification, Integrated circuits, Metallizing, Microscopic analysis, Quality assessment systems, Quality assurance, Quality assurance systems, Scanning electron microscopes, Semiconductor chips, Semiconductor devices, Semiconductors, Test equipment, Testing
58,5
Idioma Formato

Formato digital

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