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Normas DIN – AENOR
DIN ISO 11505:2018-02

DIN ISO 11505:2018-02

Surface chemical analysis - General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry (ISO 11505:2012)

Analyse chimique des surfaces - Modes opératoires généraux pour le profilage en profondeur compositionnel quantitatif par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente (ISO 11505:2012)

Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren zur quantitativen Tiefenprofilanalyse der Zusammensetzung mittels optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie (ISO 11505:2012)

2018-02 /Active
Equivalencias internacionales:

ISO 11505 (2012-12)

Relación con otras normas DIN:

Reemplaza a: DIN ISO 11505:2017-09

This document describes glow discharge optical emission spectroscopy (GD-OES) methods for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films.
Depth profile, Emission spectral analysis, Emission spectrophotometry, Glow discharges, Materials, Materials testing, OES, Optical Emission Spectroscopy, Spectral analysis, Spectrochemical analysis, Spectrophotometry, Spectroscopy, Surfaces, Testing
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