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Normas DIN – AENOR
DIN ISO 11505:2018-02

DIN ISO 11505:2018-02

Surface chemical analysis - General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry (ISO 11505:2012)

Analyse chimique des surfaces - Modes opératoires généraux pour le profilage en profondeur compositionnel quantitatif par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente (ISO 11505:2012)

Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren zur quantitativen Tiefenprofilanalyse der Zusammensetzung mittels optischer Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie (ISO 11505:2012)

Fecha:
2018-02 /Active
Equivalencias internacionales:

ISO 11505 (2012-12)

Relación con otras normas DIN:

Reemplaza a: DIN ISO 11505:2017-09

Resumen:
This document describes glow discharge optical emission spectroscopy (GD-OES) methods for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films.
Keywords:
Depth profile, Emission spectral analysis, Emission spectrophotometry, Glow discharges, Materials, Materials testing, OES, Optical Emission Spectroscopy, Spectral analysis, Spectrochemical analysis, Spectrophotometry, Spectroscopy, Surfaces, Testing
99,72
Idioma Formato

Formato digital

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