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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-13:2017-07

DIN EN 60749-13:2017-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 47/2377/CDV:2017); German version prEN 60749-13:2017 / Note: Date of issue 2017-06-23

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphère saline (IEC 47/2377/CDV:2017); Version allemande prEN 60749-13:2017 / Attention: Date de parution 2017-06-23

Halbleiterbauelement - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosphäre (IEC 47/2377/CDV:2017); Deutsche Fassung prEN 60749-13:2017 / Achtung: Erscheinungsdatum 2017-06-23

Fecha Anulación:
2018-10 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47/2377/CDV (2017-04)

prEN 60749-13 (2017-04)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN IEC 60749-13:2018-10

Resumen:
This part of IEC 60749 describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion.
Dieser Teil der IEC 60749 beschreibt das Prüfverfahren mit Salzatmosphäre zur Bestimmung der Beständigkeit von Halbleiterbauelementen gegen Korrosion.
Keywords:
Climate, Climatic tests, Components, Corrosion, Destructive testing, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Integrated circuits, Mechanical testing, Salt mist, Semiconductor devices, Semiconductors, Testing
70,84
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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