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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-44:2017-04

DIN EN 60749-44:2017-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 60749-44:2016); German version EN 60749-44:2016

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44: Méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs (IEC 60749-44:2016); Version allemande EN 60749-44:2016

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen (IEC 60749-44:2016); Deutsche Fassung EN 60749-44:2016

Fecha:
2017-04 /Active
Equivalencias internacionales:

EN 60749-44 (2016-10)

IEC 60749-44 (2016-07)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
This part of IEC 60749 establishes a procedure for measuring the single event effects on high density integrated circuit semiconductor devices including data retention capability of semiconductor devices with memory when subjected to terrestrial cosmic rays. The single event effects sensitivity is measured while the device is irradiated in a neutron beam of known flux. This test method can be applied to any type of integrated circuit.
Dieser Teil der IEC 60749 enthält ein Verfahren zur Messung der Einzelausfälle von Halbleiterbauelementen mit integrierten Schaltungen hoher Dichte, einschließlich der Fähigkeit des Datenerhalts von Halbleiterbauelementen mit Speichern, wenn diese Bauelemente erdnaher kosmischer Strahlung ausgesetzt sind. Die Empfindlichkeit für Einzelausfälle wird gemessen, während das Bauelement mit einem Neutronenstrahl von bekanntem Fluss angestrahlt wird. Deises prüfverfahren kann bei allen Arten Integrierter Schaltungen angewendet werden.
Keywords:
Climate, Climatic tests, Components, Definitions, Destructive testing, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Integrated circuits, Mechanical testing, Neutron radiation, Radiation effects, Semiconductor devices, Semiconductors, Testing
88,32
Idioma Formato

Formato digital

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