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Normas DIN – AENOR
DIN 50448:1995-12

DIN 50448:1995-12

Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical resistivity of semi-insulating semiconductor slices using a capacitive probe

Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Détermination sans contact de la résistivité électrique des tranches de semi-conducteurs semi-isolantes à l'aide d'une sonde de potentiel

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Kontaktlose Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes von halbisolierenden Halbleiterscheiben mit kapazitiver Sonde

Fecha Anulación:
1998-01 /Withdrawn
Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN 50448:1998-01

Resumen:
This Dokument covers the contactless determination of the specific electrical resistivity of high ohmic resistant, semi-insulating semiconductor slices.
Das Dokument dient der kontaktfreien Bestimmung des spezifischen elektrischen Widerstandes von hochohmigen, halbisolierenden Halbleiterscheiben.
Keywords:
Calibration, Contactless, Electrical insulating materials, Electrical measurement, Electrical resistance, Electrical resistivity, Electrical testing, Galluim arsenide, Indium phosphide, Materials testing, Measurement, Measuring probes, Measuring techniques, Methods, Probes, Semiconductor devices, Semiconductor engineering, Semiconductor slices, Semiconductor technology, Semiconductors, Testing
35,61
Idioma Formato

Formato digital

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