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Normas DIN – AENOR
DIN EN 62884-4:2016-08

DIN EN 62884-4:2016-08

Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4: Short-term frequency stability test methods (IEC 49/1182/CD) / Note: Date of issue 2016-07-22

/ Attention: Date de parution 2016-07-22

Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren - Teil 4: Prüfverfahren für die Kurzzeit-Frequenzstabilität (IEC 49/1182/CD) / Achtung: Erscheinungsdatum 2016-07-22

Fecha Anulación:
2020-02 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 49/1182/CD (2016-01)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN IEC 62884-4:2020-02

Resumen:
In 49/1016/DC, it has been checked that the separation between basic parts and measurement method parts of IEC60679-1, and this edition is according to the check and the decision in 2013 Nagoya meeting. This document will describe the measurement methods for short-term frequency stability only. This document describes the methods for the measurement and evaluation of the short-term frequency stability tests of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators. Purpose: To unify the test and evaluation methods for short-term frequency stability.
Nach IEC 49/1016/DC wurde vorgeschlagen, die grundlegenden Teile in IEC 60679-1 und die Teile, die sich auf Messverfahren beziehen, voneinander zu trennen, und die vorliegende Ausgabe entspricht diesem Vorschlag und der auf der Sitzung von 2013 in Nagoya getroffenen Entscheidung. Dieses Dokument beschreibt ausschließlich die Messverfahren für die Kurzzeit-Frequenzstabilität. Dieses Dokument beschreibt die Prüfverfahren zur Messung und Bewertung der Kurzzeit-Frequenzstabilität piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Oszillatoren. Zweck: Vereinheitlichung der Prüf- und Bewertungsverfahren für die Kurzzeit-Frequenzstabilität.
Keywords:
Ageing (materials), Crystals (electronic), Definitions, Dielectric, Dielectric devices, Electrical engineering, Electronic equipment and components, Electrostatic, Electrostatic devices, Frequencies, Frequency stability, Frequency stabilization, Measurement, Measurement conditions, Measuring techniques, Oscillators, Piezoelectric, Piezoelectric devices, Quality, Quartz crystal controlled oscillators, Quartz crystals, Short-time, Specification (approval), Testing, Types
88,32
Idioma Formato

Formato digital

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