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Normas DIN – AENOR
DIN 51179:2016-08

DIN 51179:2016-08

Vitreous and porcelain enamels - Low-voltage test for detecting and locating defects on profiled surfaces - Slurry test

Emaux vitrifiés - Essai à basse tension pour la détection et la localisation des défauts sur des surfaces profilées - Méthode barbotine

Emails und Emaillierungen - Niederspannungsprüfung zum Nachweis und zur Lokalisierung von Fehlstellen auf profilierten Oberflächen - Schlickermethode

Fecha Anulación:
2019-08 /Withdrawn
Relación con otras normas DIN:

Reemplaza a: DIN 51179:2016-03

Reemplaza a: DIN 51179:2014-09

Reemplazada por: DIN EN ISO 8289-2:2019-08

This document specifies a low-voltage test method used to detect and identify the location of defects (pores, cracks or spalling) going to the substrate of enamel coatings on corrugated and/or beaded profiles.
Defects, Definitions, Electrical measuring instruments, Enamels, Low voltage, Materials testing, Non-destructive testing, Optical tests, Profile, Profiled, Surfaces, Suspensions (chemical), Testing, Verification, Vitreous enamel
Idioma Formato

Formato digital

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