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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 52(Sec)476:1994-09

DIN IEC 52(Sec)476:1994-09

IEC 61189-3: Test methods for interconnection structures (Printed boards) - Test E07: Controlled impedance testing by Time Domain Reflectometry (TDR) (IEC 52(Secretariat)476:1994)

IEC 61189-3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten) - Prüfung E07: Gesteuerte Impedanzmessung mittels Laufzeit-Reflektometrie (TDR) (IEC 52(Sec)476:1994)

Fecha Anulación:
2015-10 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 52(Secretariat)476 (1994)

Resumen:
This document contains a test method with is used to measure reflections and time delays of pulses injected into a transmission line.
Das Dokument enthält ein Prüfverfahren, das zur Messung von Reflexionen und Zeitverzögerungen von Impulsen eingesetzt wird, die in eine Übergangsleitung eingespeist werden.
Keywords:
Electrical engineering, Electronic engineering, Impedance, Interconnection structures, Line resistance, Measurement, Printed circuits, Printed-circuit boards, Properties, Reflection, Semiconductor technology, Specification (approval), TDR, Testing, Time delay, Time domain reflectometry, Volt, Voltage
70,84
Idioma Formato

Formato digital

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