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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 47(CO)1281:1993-03

DIN IEC 47(CO)1281:1993-03

Semiconductor devices - Case-rated power field-effect transistors for amplifier and switching applications - Measuring and test methods; Identical with IEC 47(Central Office)1281

Halbleiterbauelemente - Gehäusebezogene Feldeffekt-Leistungstransistoren für Verstärkungs- und Schaltanwendungen - Mess- und Prüfverfahren; Identisch mit IEC 47(CO)1281

Fecha Anulación:
2012-04 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC/DIS 47(CO)1281 (1992-01)

Resumen:
This document contains additional measuring methods, verification tests and endurance tests for case rated fieldeffect transistors for amplifier and switching applications.
Das Dokument enthält zusätzliche Meßverfahren, Verifikationsprüfungen und Dauerprüfungen für Leistungs- und Feldeffekttransistoren für Verstärkungs- und Schaltanwendungen.
Keywords:
Applicability, Components, Electrical engineering, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Field-effect transistors, Measuring techniques, Methods for measuring, Power transistors, Semiconductors, Switchgears, Testing, Transistors
41,68
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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