Saltar navegación principal
Normas DIN – AENOR
DIN IEC 47(CO)1246:1993-01

DIN IEC 47(CO)1246:1993-01

Electrostatic sensitive semiconductor devices sensitive to voltage pulses of short duration; test methods; identical with IEC 47(Central Office)1246

Elektrostatisch gefährdete Halbleiterbauelemente, empfindlich gegen Spannungsimpulse kurzer Dauer; Prüfverfahren; Identisch mit IEC 47(CO)1246

Fecha Anulación:
1997-12 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC/DIS 47(CO)1246 (1991-10)

Resumen:
The document contains a revised test method to test the sensitivity of electrostatic sensitive semiconductor devices against voltage pulses of short duration.
Das Dokument enthält eine überarbeitete Fassung des Prüfverfahrens für die Empfindlichkeit von elektrostatisch gefährdeten Halbleiterbauelementen gegen Spannungsimpulse kurzer Dauer.
Keywords:
Components, Electrical engineering, Electrical measuring instruments, Electronic equipment and components, Electrostatic, Electrostatics, Metrology, Pulse voltage, Semiconductor devices, Semiconductor protection, Semiconductors, Sensitivity, Testing, Voltage, Voltage pulse
29,35
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Añadir a la cesta