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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60444-8/A1:2013-10

DIN EN 60444-8/A1:2013-10

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units (IEC 49/1061/CD:2013) / Note: Date of issue 2013-10-25

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface (CEI 49/1061/CD:2013) / Attention: Date de parution 2013-10-25

Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 8: Prüfaufbau für oberflächenmontierbare Schwingquarze (IEC 49/1061/CD:2013) / Achtung: Erscheinungsdatum 2013-10-25

Fecha Anulación:
2014-08 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 49/1061/CD (2013-04)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 60444-8:2014-08

Resumen:
Amendment 1 to DIN EN 60444-8:2004-03 This part of IEC 60444 explains the test fixture that allows the accurate measurement of resonance frequency, resonance resistance, and equivalent electrical circuit parameters of a leadless surface mounted quartz crystal unit in GHz band using zero phase technique as specified in IEC 60444-4 and IEC 60444-5.
Änderung 1 zu DIN EN 60444-8:2004-03 In diesem Teil von IEC 60444 wird der Prüfaufbau erläutert, der genaue Messungen von Resonanzfrequenz, Resonanzwiderstand und von Parametern der Ersatzschaltung von SMD-Schwingquarzen für den GHz-Bereich nach dem Null-Phasenverfahren gestattet, das in IEC 60444-4 und IEC 60444-5 festgelegt ist.
Keywords:
Crystal resonators, Crystals (electronic), Electrical engineering, Electronic equipment and components, Equivalent circuits, Frequency measurement, Frequency ranges, Measurement, Measuring accuracy, Measuring ranges, Measuring techniques, Piezoelectric devices, Quartz crystals, Resonance, Resonance resistance, Resonant frequency, SMD, Surface mounting, Test set-ups, Testing, Zero phase
59,72
Idioma Formato

Formato digital

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