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Normas DIN – AENOR
DIN 50445:1992-04

DIN 50445:1992-04

Testing of materials for semiconductor technology; contactless determination of the electrical resistivity of semiconductor slices with the eddy current method; homogeneously doped semiconductor wafers

Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs, détermination sans contact de la résistivité électriques des disques des semiconducteurs par la méthode des courant de foucault; homogène dopés des disques des semiconducteurs

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Kontaktlose Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes mit dem Wirbelstrom-Verfahren; Homogen dotierte Halbleiterscheiben

Fecha Anulación:
2018-02 /Withdrawn
Resumen:
The standard defines the test method for the determination of the specific electrical resistivity of homogeneously doped semiconductor wafers.
Die Norm beschreibt ein Prüfverfahren zur Bestimmung des spezifischen elektrischen Widerstandes von homogen dotierten Halbleiterscheiben.
Keywords:
Calibration, Definitions, Eddy-current methods, Eddy-current tests, Electrical impedance, Electrical measurement, Electrical resistance, Electrical testing, Impedance measurement, Materials, Materials testing, Measurement, Non-destructive testing, Semiconductor devices, Semiconductor engineering, Semiconductor slices, Semiconductor technology, Semiconductors, Testing
28,79
Idioma Formato

Formato digital

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