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Normas DIN – AENOR
DIN EN 62276:2013-08

DIN EN 62276:2013-08

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 62276:2012); German version EN 62276:2013 / Note: DIN EN 62276 (2006-04) remains valid alongside this standard until 2015-11-23.*A transition period, as set out in DIN EN 62276 (2017-08), exists until 2019-11-28.

Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure (CEI 62276:2012); Version allemande EN 62276:2013 / Attention: DIN EN 62276 (2006-04) reste valable avec la présente norme jusqu'à 2015-11-23.*Il existe un délai de transition comme fixé en DIN EN 62276 (2017-08) jusqu'à 2019-11-28.

Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 62276:2012); Deutsche Fassung EN 62276:2013 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 62276 (2006-04) noch bis 2015-11-23.*Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 62276 (2017-08), bis 2019-11-28 beachten.

Fecha Anulación:
2017-08 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

EN 62276 (2013-01)

IEC 62276 (2012-10)

Relación con otras normas DIN:

Reemplaza a: DIN IEC 62276:2009-10

Reemplazada por: DIN EN 62276:2017-08

Reemplaza a: DIN EN 62276:2006-04

Resumen:
This International Standard applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate (LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave (SAW) filters and resonators.
Diese Internationale Norm gilt für die Herstellung von Einkristall-Wafern aus synthetischen Quarzkristallen, Lithiumniobat-(LN-), Lithiumtantalat-(LT-), Lithiumtetraborat-(LBO-)Kristallen und Lanthanum-Gallium-Silikat (LGS), die für die Verwendung als Substrate bei der Herstellung von Oberflächenwellen-(OFW-)Filtern und Resonatoren vorgesehen sind.
Keywords:
Acoustic waves, Components, Crystal lattices, Crystals (electronic), Definitions, Electrical engineering, Electrical properties, Electrical properties and phenomena, Electronic equipment and components, Frequency stabilization, Measurement, Measuring techniques, Methods for measuring, Piezoelectric devices, Piezoelectricity, Quartz crystals, Ratings, Single crystal, Specifications, Surface acoustic wave devices, Surface acoustic waves, Testing, Wafers
119,63
Idioma Formato

Formato digital

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