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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 47(Sec)1227:1991-10

DIN IEC 47(Sec)1227:1991-10

Semiconductor devices; amendment of IEC 60749 climatic-mechanical test methods; new clause 7: mechanical test methods for SMD devices; identical with IEC 47(Secretariat)1227

Halbleiterbauelemente; Ergänzung der IEC 60749 klimatisch mechanische Prüfungen; Neuer Abschnitt 7: Mechanische Prüfungen für SMD-Bauelemente; Identisch mit IEC 47(Sec)1227

Fecha Anulación:
2010-02 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47(Secretariat)1227 (1991)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 60749:2000-02

Resumen:
The draft standard contains additional requirements on the solderability and the resistance of soldering heat of surface mounted devices.
Der Norm-Entwurf enthält zusätzliche Anforderungen an die Lötbarkeit und die Lötwärmebeständigkeit bei Halbleiterbauelementen für die Oberflächenmontage.
Keywords:
Climatic tests, Components, Electrical engineering, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Mechanical testing, Semiconductor devices, SMD, Surface mounting, Testing
35,61
Idioma Formato

Formato digital

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