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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 47(CO)1186:1991-08

DIN IEC 47(CO)1186:1991-08

Semiconductor devices; sealing test Q<(Index)K> for semiconductor devices; identical with IEC 47(Central Office)1186

Dispositifs à semiconducteurs; l'essai d'hermeticité Q<(Index)K> pour dispositifs; identique à CEI 47(Bureau Central)1186

Halbleiterbauelemente; Dichtheitsprüfung Q<(Index)K> für Halbleiterbauelemente; Identisch mit IEC 47(CO)1186

Fecha Anulación:
2010-02 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC/DIS 47(CO)1186 (1989)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 60749:2000-02

Resumen:
The draft standard contains additional informations for the sealing test Q<(Index)K> according to IEC 68-2-17 regarding cavaty semiconductor devices.
Der Norm-Entwurf enthält zusätzliche Angaben zur Dichtheitsprüfung Q<(Index)K> nach IEC 68-2-17 in Bezug auf Halbleiterbauelemente mit Hohlraum.
Keywords:
Components, Electrical engineering, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Impermeability, Leak tests, Semiconductor devices, Testing
29,35
Idioma Formato

Formato digital

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