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Normas DIN – AENOR
DIN 50452-2:1991-03

DIN 50452-2:1991-03

Testing of materials for semiconductor technology; test method for particle analysis in liquids; determination of particles with optical particle counters

Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs; méthode pour l'analyse des particules dans les liquides; détermination des particules par compteur optique de particules

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Verfahren zur Teilchenanalytik in Flüssigkeiten; Teilchenbestimmung mit optischen Durchflußpartikelzählern

Fecha Anulación:
2019-10 /Withdrawn
Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN 50452-2:2009-10

Resumen:
The standard defines the test method for the determination of the concentration of particles in liquids with optical particle counters.
Die Norm beschreibt das Prüfverfahren für die Bestimmung der Konzentration von Teilchen in Flüssigkeiten mittels optischer Durchflußpartikelzähler.
Keywords:
Analysis, Concentration, Definitions, Determination of content, Liquids, Materials, Materials testing, Particle analysis, Particulate matter measurement, Semiconductor materials, Semiconductor technology, Semiconductors, Testing
29,35
Idioma Formato

Formato digital

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