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Normas DIN – AENOR
DIN 41793-2:1974-03

DIN 41793-2:1974-03

Low pover semiconductor devices; electrical reference measuring methods, transistors

Composants à semi conducteur pour les télécommunications; procédés de mesures de référence électriques, transistors

Halbleiterbauelemente für die Nachrichtentechnik; Elektrische Referenzmeßverfahren, Transistoren

Fecha Anulación:
1997-12 /Withdrawn
Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN IEC 60747-7:1997-12

Keywords:
Direct current, Emitters, Frequencies, Measuring techniques, Open, Semiconductors, Transistors
28,79
Idioma Formato

Formato digital

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