Saltar navegación principal
Normas DIN – AENOR
DIN EN 62483:2012-05

DIN EN 62483:2012-05

Environmental acceptance requirements for tin whisker susceptibility of tin and tin alloy surface finishes (IEC 47/2122/CDV:2012); German version FprEN 62483:2012 / Note: Date of issue 2012-05-29

Exigences de réception environnementale pour la susceptibilité des finis de surface en étain et alliage d'étain à la trichite d'étain (CEI 47/2122/CDV:2012); Version allemande FprEN 62483:2012 / Attention: Date de parution 2012-05-29

Umweltbezogene Annahmeanforderungen von Oberflächenbeschichtungen aus Zinn oder Zinnlegierungen hinsichtlich der Anfälligkeit für Zinnwhisker (IEC 47/2122/CDV:2012); Deutsche Fassung FprEN 62483:2012 / Achtung: Erscheinungsdatum 2012-05-29

Fecha Anulación:
2015-01 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

FprEN 62483 (2012-03)

IEC 47/2122/CDV (2012-03)

Resumen:
The methodology described in this document is applicable for environmental acceptance testing of tin based surface finishes and mitigation practices for tin whiskers. This methodology may not be sufficient for applications with special requirements, (i.e. military, aerospace, etc.). This specification does not apply to components with bottom-only terminations where the full plated surface is wetted during assembly (for example: quad flat no leads and ball grid array components, flip chip bump terminations).
Die Methodik, die in diesem Dokument beschrieben wird, ist für die Umwelt-Annahmeprüfung von Oberflächenbeschichtungen auf Zinnbasis und Gegenmaßnahmen für Zinnwhisker anwendbar. Für Anwendungen mit besonderen Anforderungen (d. h. Militär, Raumfahrt usw.) kann diese Methodik möglicherweise nicht ausreichend sein. Diese Festlegungen sind nicht anwendbar für Bauteile, die nur Anschlüsse auf der Unterseite haben, bei denen die gesamte plattierte Oberfläche während der Montage benetzt wird (Quad-Flat-Bauteile ohne Anschlussleiter und Ball-Grid-Array-Bauteile oder Bump-Anschlüsse bei Flip-Chip-Technologie).
Keywords:
Definitions, Environmental condition, Finishes, Inclusions, Measurement, Measuring techniques, Microscopic analysis, Properties, Sampling methods, Semiconductor devices, Susceptibility, Test methods, Tin, Tin alloys, Whisker, Whiskers
138,41
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Añadir a la cesta