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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-7:2012-02

DIN EN 60749-7:2012-02

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011); German version EN 60749-7:2011 / Note: DIN EN 60749-7 (2003-04) remains valid alongside this standard until 2014-07-22.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels (CEI 60749-7:2011); Version allemande EN 60749-7:2011 / Attention: DIN EN 60749-7 (2003-04) reste valable avec la présente norme jusqu'à 2014-07-22.

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 7: Messung des inneren Feuchtegehaltes und Analyse von anderen Restgasen (IEC 60749-7:2011); Deutsche Fassung EN 60749-7:2011 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749-7 (2003-04) noch bis 2014-07-22.

Fecha:
2012-02 /Active
Equivalencias internacionales:

EN 60749-7 (2011-09)

IEC 60749-7 (2011-06)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
The purpose of this part of DIN EN 60749 is to test and measure the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. It is generally only used for high reliability applications such as military or aerospace.
Dieser Teil der DIN EN60749 legt die Messung bzw. Prüfung des Gehalts von Wasserdampf und anderen Gasen in der Innenatmosphäre eines Bauelementes mit hermetisch verschlossenen Metall- oder Keramikgehäusen fest. Diese wird im Allgemeinen nur für Anwendungen mit hoher Zuverlässigkeit benutzt, wie sie z. B. im militärischen Bereich und in der Raumfahrt gelten.
Keywords:
Calibration, Climate, Climatic tests, Components, Definitions, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Examination (quality assurance), Integrated circuits, Mass spectrometers, Mass spectrometry, Measurement, Measuring techniques, Mechanical testing, Moisture, Moisture contents, Residual gas, Residues, Semiconductor devices, Semiconductors, Testing
65,98
Idioma Formato

Formato digital

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