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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 47(CO)1054:1989-08

DIN IEC 47(CO)1054:1989-08

Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; supplements to IEC 749; damp heat; identical with IEC 47(Central Office)1054

Dispositifs à semiconducteurs; essais mecaniques et climatiques; suppléments à CEI 749; chaleur humide; identique à CEI 47(Bureau Central)1054

Halbleiterbauelemente; Klimatisch-mechanische Prüfverfahren; Ergänzungen zur IEC 749; Feuchte Wärme; Identisch mit IEC 47(CO)1054

Fecha Anulación:
2010-02 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC/DIS 47(CO)1054 (1987)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 60749:2000-02

Resumen:
This draft standard contains a revision of test CA: "damp heat" in IEC 749.
Der Norm-Entwurf enthält eine Überarbeitung der Prüfung CA: "Feuchte Wärme" in IEC 749.
Keywords:
Climate, Components, Damp-heat tests, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Mechanical testing, Semiconductor devices, Semiconductors, Testing
29,35
Idioma Formato

Formato digital

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