Saltar navegación principal
Normas DIN – AENOR
DIN IEC 47(CO)1116:1989-05

DIN IEC 47(CO)1116:1989-05

Semiconductor devices; amendment to the generic specification IEC 60747-10; accelerated test procedures; identical with IEC 47/47A(Central Office)1116/205

Dispositifs à semiconducteurs; modification à la spécification générique 60747-10; procédures d'essais accélérés; identique à CEI 47/47A(Bureau Central)1116/205

Halbleiterbauelemente; Ergänzung der Fachgrundspezifikation IEC 60747-10; Beschleunigte Prüfverfahren; Identisch mit IEC 47/47A(CO)1116/205

Fecha Anulación:
2010-12 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC/DIS 47/47A(CO)1116/205 (1988)

Resumen:
It is intended to prepare an amendment to the generic specification for monolithic integrated circuits concerning sub-clause 12.4: accelerated test procedures.
Es ist beabsichtigt, zur Fachgrundspezifikation für integrierte monolithische Schaltungen eine Ergänzung herauszugeben, die den Abschnitt 12.4 Prüfbeschleunigungs-Verfahren betrifft.
Keywords:
Electrical engineering, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Inspection, Integrated circuits, Probable errors, Quality assessment, Quality assurance, Semiconductor devices, Testing
29,35
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Añadir a la cesta