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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 47(CO)1049:1989-01

DIN IEC 47(CO)1049:1989-01

Semiconductor devices; supplement to the sectional specification for integrated circuits; correlated measurements; identical with IEC 47/47A(Central Office)1049/173

Dispositifs à semiconducteurs; supplément à la spécification intermédiaire pour les circuits intégrés; mesures corrélatives; identique à CEI 47/47A(Bureau Central)1049/173

Halbleiterbauelemente; Ergänzung der Rahmenspezifikation für Integrierte Schaltung; Korrelierte Messungen; Identisch mit IEC 47/47A(CO)1049/173

Fecha Anulación:
2010-12 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC/DIS 47(CO)1049 (1987)

Resumen:
The draft standard describes methods which can be used to correlate the results of measurements of electrical procedures at different temperatures of integrated circuits.
Der Norm-Entwurf enthält Meßverfahren, die bei integrierten Schaltungen angewendet werden können, um die Meßergebnisse von Kennwerten bei unterschiedlichen Temperaturen wechselseitig zuordnen zu können.
Keywords:
Correlation methods, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Integrated circuits, Mathematical calculations, Measurement, Quality assurance, Quality assurance systems, Semiconductor devices, Semiconductors, Statistical methods of analysis, Statistics
28,79
Idioma Formato

Formato digital

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