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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 47(CO)1053:1988-12

DIN IEC 47(CO)1053:1988-12

Semiconductor devices; internal visual examination; procedure for discrete semiconductors; identical with IEC 47(Central Office)1053

Dispositifs à semiconducteurs; examen visual interne; procedure pour les semiconducteurs; identique à CEI 47(Bureau Central)1053

Halbleiterbauelemente; Interne Sichtprüfung vor dem Verschließen; Verfahren für Einzel-Halbleiterbauelemente; Identisch mit IEC 47(CO)1053

Fecha Anulación:
1997-12 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC/DIS 47(CO)1053 (1987)

Resumen:
The draft standard describes the internal visual examination of integrated microcircuits as an additional test method. This test method is intended to be carried out, depending on the assessment level, on circuits the quality of which is assessed within the IEC-quality assessment system.
Der Norm-Entwurf beschreibt als zusätzliches Prüfverfahren die Interne Sichtprüfung bei integrierten Mikroschaltungen. Diese Prüfung ist bei Integrierte Schaltungen je nach Gütebestätigungsstufe vorgesehen, die im IEC-Q-System einer Gütebestätigung unterzogen werden.
Keywords:
Electrical engineering, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Integrated circuits, Semiconductor devices, Semiconductors, Testing, Visual inspection (testing)
47,01
Idioma Formato

Formato digital

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