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Normas DIN – AENOR
DIN 50435:1988-05

DIN 50435:1988-05

Testing of semiconductor materials; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices by means of the four-probe/direct current method

Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs; détermination de la variation radiale de la résistivité électriques des disques de silicium ou germanium par la méthode du courant continu avec quatre électrodes de détection

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der radialen Variation des spezifischen elektrischen Widerstandes an Silicium- oder Germanium-Scheiben mit dem Vier-Sonden-Gleichstromverfahren

Fecha Anulación:
2019-01 /Withdrawn
Resumen:
The standard determines a test method for the measurement of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices by means of a four-point-DC-probe.
Die Norm legt ein Prüfverfahren zur Messung der radialen Variation des spezifischen elektrischen Widerstandes an Silicium- oder Germanium-Scheiben mit dem Vier-Sonden-Gleichstromverfahren fest.
Keywords:
Definitions, Direct current, Electrical measurement, Electrical resistance, Electrical resistivity, Germanium, Materials, Measurement, Radial, Semiconductor technology, Semiconductors, Silicon, Testing, Washers
29,35
Idioma Formato

Formato digital

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