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Normas DIN – AENOR
DIN 50441-4:1987-07

DIN 50441-4:1987-07

Testing of materials for semiconductor technology; measurement of the geometric dimensions of semiconductor slices; diameter and flat depth of slices

Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs; mesure des dimensions géométriques des disques pour matériaux semiconducteurs; diamètre et profondeur du méplat du disque

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben; Scheibendurchmesser und Flattiefe

Fecha Anulación:
1999-03 /Withdrawn
Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN 50441-4:1999-03

Resumen:
The standard determines test methods for the non-destructive measurement of diameter and flat depth of semiconductor slices.
Die Norm beschreibt Prüfverfahren für die zerstörungsfreie Messung von Durchmesser und Flattiefe von Halbleiterscheiben.
Keywords:
Definitions, Diameter, Diameter measurement, Height, Inspection, Materials, Measurement, Non-destructive testing, Semiconductor technology, Semiconductors, Specification (approval), Test equipment, Testing, Thickness, Thickness measurement
29,35
Idioma Formato

Formato digital

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