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Normas DIN – AENOR
DIN 41850-3:1985-09

DIN 41850-3:1985-09

Integrated film circuits; methods for the assessment of dielectric pastes

Circuits intégrés à couches; matériaux, procédés pour l'évaluation des pattes diélectriques

Integrierte Schichtschaltungen; Werkstoffe; Verfahren zur Beurteilung dielektrischer Pasten

Fecha Anulación:
2016-05 /Withdrawn
Resumen:
The standard describes procedures for the assessment of dielectric pastes to be used in integrated film circuits. Thereby the suitability is to diffentiate for the three main applications cross-over, dielectric and protective coating. The tests, necessary for this assessment, are carried out by means of a test substrat the layout of which is laid down in this standard.
Die Norm beschreibt ein Verfahren, nach denen dielektrische Pasten für die Verwendung in integrierten Schichtschaltungen beurteilt werden können. Hierbei wird unterschieden nach der Eignung für die 3 Hauptanwendungsbereiche Schutzglasur, Überkreuzung und Dielektrikum. Die notwendigen Prüfungen werden in einem Testsubstrat durchgeführt, dessen Layout in der Norm festgelegt ist.
Keywords:
Ceramics, Definitions, Dielectric materials, Electrical engineering, Electrical insulating materials, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Film circuits, Inspection, Integrated circuits, Materials, Pastes, Properties, Specification (approval), Substrates (insulating)
35,61
Idioma Formato

Formato digital

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