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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-34:2009-10

DIN EN 60749-34:2009-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 47/2027/CDV:2009); German version FprEN 60749-34:2009 / Note: Date of issue 2009-10-19

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d´essais mécaniques et climatiques - Partie 34: Cycles en puissance (CEI 47/2027/CDV:2009); Version allemande FprEN 60749-34:2009 / Attention: Date de parution 2009-10-19

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34: Lastwechselprüfung (IEC 47/2027/CDV:2009); Deutsche Fassung FprEN 60749-34:2009 / Achtung: Erscheinungsdatum 2009-10-19

Fecha Anulación:
2011-05 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

FprEN 60749-34 (2009-09)

IEC 47/2027/CDV (2009-09)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 60749-34:2011-05

Resumen:
This test method is used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors. This happens when low-voltage operating biases for forward conduction (load currents) are periodically applied and removed causing rapid changes of temperature. The power cycling test is intended to simulate typical applications in power electronics and is complementary to high temperature operating life (see DIN EN 60749-23).
Dieses Prüfverfahren legt eine Methode fest, um die thermische und mechanische Widerstandsfähigkeit eines Halbleiterbauelementes zu bestimmen bei zyklischem Ein- und Ausschalten der Verlustleistung an den internen Halbleiterchips und Verbindungselementen. Dies ist der Fall, wenn Halbleiterbauelemente bei Betrieb mit niedriger Spannung in Durchlassrichtung (unter Laststrom) periodisch ein- und ausgeschaltet werden, wobei schnelle Temperaturänderungen auftreten. Die Lastwechselprüfung dient dem Zweck, typische Anwendungen in der Leistungselektronik zu simulieren, und ist eine Ergänzung zum Prüfverfahren für die Lebensdauer bei hoher Temperatur (siehe DIN EN 60749-23).
Keywords:
Climatic tests, Components, Cyclic loading, Definitions, Electric load, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Failure, Integrated circuits, Load alternation, Mechanical testing, Power electronics, Resistance, Semiconductor devices, Semiconductors, Simulation, Testing, Testing conditions
52,9
Idioma Formato

Formato digital

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