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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60679-6:2009-01

DIN EN 60679-6:2009-01

Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guide (IEC 49/811/CDV:2008); German version FprEN 60679-6:2008 / Note: Date of issue 2009-01-05

/ Attention: Date de parution 2009-01-05

Quarzoszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzoszillatoren und OFW-Oszillatoren - Leitfaden für die Anwendung (IEC 49/811/CDV:2008); Deutsche Fassung FprEN 60679-6:2008 / Achtung: Erscheinungsdatum 2009-01-05

Fecha Anulación:
2011-12 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

FprEN 60679-6 (2008-10)

IEC 49/811/CDV (2008-10)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 60679-6:2011-12

Resumen:
This part of IEC 60679 applies to the phase jitter measurement of quartz crystal oscillators and SAW oscillators used for electronic devices and gives guidance for phase jitter that allows the accurate measurement of r.m.s. jitter.
Dieser Teil von IEC 60679 gilt für die Phasenjittermessung von Quarz- und OFW-Oszillatoren, die in elektronischen Geräten verwendet werden und gibt Anleitung zu Phasenjitter, mit der die genaue Messung des RMS-Jitters möglich wird.
Keywords:
Applications, Crystals (electronic), Electrical engineering, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Evaluations, Guide books, Jitter, Measurement, Measuring techniques, Oscillators, Piezoelectric devices, Properties, Quality, Quality assurance, Quartz crystal controlled oscillators, Ratings, Specification, Test apparatus, Testing, Types
88,32
Idioma Formato

Formato digital

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