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Normas DIN – AENOR
DIN 50444:1984-04

DIN 50444:1984-04

Testing of materials for semiconductor technology; conversion between resistivity and dopant density; silicon

Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs; corrélation entre le résistivité électrique et la concentration des matériaux dopents; silicium

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Umrechnung zwischen spezifischem elektrischen Widerstand und Dotierungskonzentration; Silicium

Fecha Anulación:
2011-03 /Withdrawn
Keywords:
Definitions, Doping agents, Electrical resistance, Electrical resistivity, Inclusions, Materials, Materials testing, Mathematical operations, Semiconductor engineering, Semiconductor technology, Semiconductors, Silicon, Testing
64,67
Idioma Formato

Formato digital

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