Saltar navegación principal
Normas DIN – AENOR
DIN IEC 62374-1:2008-02

DIN IEC 62374-1:2008-02

Time Dependent Dielectric Breakdown Test (TDDB) for Inter-metal layers (IEC 47/1946/CD:2007) / Note: Date of issue 2008-03-26

/ Attention: Date de parution 2008-03-26

Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei intermetallischen Schichten (IEC 47/1946/CD:2007) / Achtung: Erscheinungsdatum 2008-03-26

Fecha Anulación:
2011-06 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47/1946/CD (2007-11)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 62374-1:2011-06

Resumen:
This standard describes a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for Inter-metal layers on semiconductor devices and product lifetime estimation method of TDDB failure.
In diesem Dokument wird sowohl ein Prüfverfahren zum zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB; en: time dependent dielectric breakdown) in intermetallischen Schichten auf Halbleiterbauelementen als auch ein Verfahren zum Abschätzen der Bauelementelebensdauer bezogen auf TDDB-Ausfälle beschrieben.
Keywords:
Checking equipment, Components, Definitions, Dielectric, Dielectric breakdown, Electrical engineering, Electronic equipment and components, Enclosures, Failure, Gates, Heating chamber, Layers, Life (durability), Semiconductor devices, Stress, Testing, Testing devices, Time-dependent, Voltage, Voltage stress
76,26
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Añadir a la cesta