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Normas BSI – AENOR
BS EN 62884-2:2017

BS EN 62884-2:2017

Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators. Phase jitter measurement method

Fecha:
2017-12-08 /Definitive
Comité:
EPL/49
Equivalencias internacionales:

EN 62884-2:2017

IEC 62884-2:2017

Keywords:
Dimensions, Visual inspection (testing), Oscillators, Electrostatic devices, Piezoelectric devices, Measurement
199,28
Idioma Formato

Formato digital

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