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Normas BSI – AENOR
PD ISO/TS 17915:2013

PD ISO/TS 17915:2013

Optics and photonics. Measurement method of semiconductor lasers for sensing

Fecha Anulación:
2018-05-31 /Withdrawn
Comité:
CPW/172
Equivalencias internacionales:

ISO/TS 17915:2013

Relación con otras normas BSI:

Reemplazada por: BS ISO 17915:2018

Keywords:
Optics, Phase, Optical measurement, Lasers, Polarization (wave physics), Phase shift, Wave properties and phenomena, Optical instruments
253,3
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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