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Normas BSI – AENOR
BS EN 60749-27:2006+A1:2012

BS EN 60749-27:2006+A1:2012

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM)

Fecha:
2013-01-31 /Definitive
Comité:
EPL/47
Equivalencias internacionales:

EN 60749-27:2006/A1:2012

IEC 60749-27:2006/AMD1:2012

Relación con otras normas BSI:

Reemplaza a: BS EN 60749:1999

Keywords:
Electrical testing, Grades (quality), Sensitivity, Damage, Semiconductor devices, Classification systems, Electronic equipment and components, Test models, Mechanical testing, Electrostatics, Integrated circuits, Degradation, Climate, Environmental testing
145,95
Idioma Formato

Formato digital

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