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Normas BSI – AENOR
BS ISO 15932:2013

BS ISO 15932:2013

Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Vocabulary

Fecha:
2013-12-31 /Under Review
Comité:
CII/9
Equivalencias internacionales:

ISO 15932:2013

Keywords:
Optical instruments, Electron optics, Instrumental methods of analysis, Microscopes, Vocabulary, Electron beams, Electron microscopes, Scanning electron microscopes, Terminology
214,36
Idioma Formato

Formato digital

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