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Normas BSI – AENOR
BS EN 60749-19:2003+A1:2010

BS EN 60749-19:2003+A1:2010

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Die shear strength

Fecha:
2010-10-31 /Definitive
Comité:
EPL/47
Equivalencias internacionales:

EN 60749-19:2003/A1:2010

IEC 60749-19:2003/AMD1:2010

Relación con otras normas BSI:

Reemplaza a: BS EN 60749:1999

Keywords:
Integrated circuits, Substrates (insulating), Quality control, Environmental testing, Strength of materials, Semiconductor devices, Shear testing, Shear strength, Electrical components, Climate, Mechanical testing, Electrical equipment, Electronic equipment and components
124,21
Idioma Formato

Formato digital

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