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Normas BSI – AENOR
BS ISO 15472:2010

BS ISO 15472:2010

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectrometers. Calibration of energy scales

Fecha:
2010-05-31 /Confirmed
Comité:
CII/60
Equivalencias internacionales:

ISO 15472:2010

Relación con otras normas BSI:

Reemplaza a: BS ISO 15472:2001

Keywords:
Binding, X-ray analysis, Scale, X-ray fluorescence spectrometry, Spectroscopy, Calibration, Instrumental methods of analysis, Magnesium, Photoelectricity, Error analysis, Surface chemistry, Chemical analysis and testing, Energy transfer, Surfaces, Ion beams, Aluminium
241,27
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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