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Normas BSI – AENOR
BS ISO 16700:2004

BS ISO 16700:2004

Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Guidelines for calibrating image magnification

Fecha Anulación:
2016-07-31 /Withdrawn
Comité:
CII/9
Equivalencias internacionales:

ISO 16700:2004

Relación con otras normas BSI:

Reemplazada por: BS ISO 16700:2016

Keywords:
Electron microscopes, Microscopes, Electron optics, Magnification, Control samples, Optical instruments, Electron beams, Scanning electron microscopes, Accuracy, Optical phenomena, Calibration
205,36
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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