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Normas BSI – AENOR
BS ISO 22489:2006

BS ISO 22489:2006

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength-dispersive X-ray spectroscopy

Fecha Anulación:
2016-10-31 /Withdrawn
Comité:
CII/9
Equivalencias internacionales:

ISO 22489:2006

Relación con otras normas BSI:

Reemplazada por: BS ISO 22489:2016

Keywords:
X-rays, Spectroscopy, Instrumental methods of analysis, Chemical analysis and testing, Specimen preparation, Microanalysis, Test equipment, X-ray analysis, Dispersion (waves), Electron beams, Wavelengths
216,12
Idioma Formato

Formato digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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